Pasted image 20231116154316.png

模型

  • 系统参数: $\downarrow$
    • QE($\eta$) (Quantum Efficiency)
    • $K$ (System Gain)
    • $\mu_d,\sigma_d$ (read noise)
    • $\sigma_q$ (quantization noise) : 常数
      • 量化误差可以看做在$[-1/2,1/2]$ 之间均匀分布 , $\sigma_q^2=\int_{-1/2}^{1/2}x^2 dx=1/12$ , 单位为$DN^2$
成像模型 input 中间结果 output
变量下标 p e y
含义 光子 电子 读数
单位   $e^{-1}$ DN(digital number)
测量方式 由积分时间+ sensor面积 得出
公式:

$\mu_p=\frac{\text{辐射能}}{\text{单个光子的辐射能}}=\frac{A(sensor面积)\cdot t(曝光时间)\cdot E(辐射照度)}{h(\text{普朗克常数})c(\text{光速})/\lambda(\text{波长})}$
除曝光时间外的变量测试中一般保持不变
  直接测量$y(t)$
公式关系   $p\rightarrow e$ :
$\mu_e=\eta\mu_p$
$\sigma_e^2=\eta\sigma_p^2=\mu_e$(Poisson分布)
$e\rightarrow y:$
$\mu_y=K(\mu_e+\mu_d)=K\mu_e+\mu_{y.dark}$
$\sigma_y^2=K^2(\sigma_e^2+\sigma_d^2)+\sigma_q^2=K^2\sigma_e^2+\sigma_{y.dark}^2$

$s_{y.50}^2=s_{y.dark}^2+PRNU_{1288}^2 (\mu_{y.50}-\mu_{y.dark})^2$
(固定曝光时间, 改变像素位置
假设$s_{y.50}^2-s_{y.dark}^2$ 关于$(\mu_{y.50}-\mu_{y.dark})^2$ 是线性的)
统计变量 $\mu_p(t)$   dark noise: $\mu_{y.dark},\sigma_{y.dark}$
$\mu_y, \sigma_y$
spatial non-uniformity $s_y$ (per pixel)

测试

基础参数

PTC曲线: Pasted image 20240702173149.png SNR曲线: Pasted image 20240702173242.png

测试项名称 测试数据 理论值 含义 得到参数
PTC(Photon Transfer)曲线 $(\mu_y-\mu_{y.dark},\sigma_y^2)$ $\sigma_y^2=K(\mu_y-\mu_{y.dark})+\sigma_{y.dark}^2$
是一条直线
  斜率 = System gain $K$
Temporal dark noise $\sigma_{y.dark}^2$ $\sigma^2_{y.dark}=K^2\sigma_d^2+\sigma_q^2$   $\sigma_d$
read noise
QE(Quantum Efficiency)
或 $\eta$
$(\mu_p, \mu_y-\mu_{y.dark})$ $\eta=\frac{\mu_e}{\mu_p}=\frac{\mu_y-\mu_{y.dark}}{K\mu_p}$ sensor的透光率 $\eta$
SNR曲线
0
($\mu_p$, SNR$=\frac{\mu_y-\mu_{y.dark}}{\sigma_y}$ )

改变曝光时间,测量$\mu_y, \sigma_y,s_y$ 得到SNR,计算$\mu_p$

log-log曲线
$SNR(\mu_p) =\frac{\eta\mu_p}{\sqrt{\sigma_d^2+\sigma_q^2/K^2+\eta\mu_p}}$




data和model差异大的时候,
可能:1. QE不符合线性规律 2. PTC曲线不符合模型
 
1 对应图上ideal线,
$(\mu_p,\sqrt{\mu_p})$
在图上固定不依赖数据
$SNR_{ideal}(\mu_p)=\sqrt{\mu_p}$
在log-log图上是直线
理想情况
$\eta=1,\sigma_d=\sigma_q=0$
 
2

Saturation capacity
对应图上sat线, $\mu_{p.sat}$

统计$\mu_y$ 在最大值附近调整曝光的histogram
根据读数达到最大$\mu_{y.sat}$ 的时候的曝光时间计算
$SNR_{max}=\sqrt{\mu_{e.sat}}$ 在曝光时间t很大的时候,SNR$\approx\sqrt{\eta\mu_p} =\sqrt{\mu_e}$ 曝光时间t很大的情况
$\mu_e\texttt{»}\sigma_d$
$\mu_e\texttt{»}\sigma_q$
 
3

absolute sensitivity threshold
对应图上min线, $\mu_{p.min}$

由$\sigma_d, K, \sigma_q,\eta$ 共同计算

$SNR(\mu_p)=\frac{\eta\mu_p}{\sqrt{\sigma_d^2+\sigma_q^2/K^2+\eta\mu_p}}=1$
是$\mu_p$的二次方程
$\mu_{p.min}=\frac{1}{\eta}(\sqrt{\sigma_d^2+\sigma_q^2/K^2+1/4}+\frac{1}{2})$
曝光时间t很小的情况
SNR=1, 再往下似乎没有意义
 
4 $(\mu_p,SNR_{total}(\mu_p)=\frac{\mu_y-\mu_{y.dark}}{\sqrt{\sigma_y^2+s_y^2}})$ $SNR_{total}(\mu_p)=$
$\frac{\eta\mu_p}{\sqrt{\sigma_d^2+DSNU_{1288}^2+\sigma_q^2/K^2+\eta\mu_p+PRNU_{1288}^2(\eta\mu_p)^2}}$
把$s_y$ 也加上  
5
(DR)Dynamic range
两项, 上面2,3已经测过
$\mu_{p.min}$
$\mu_{p.sat}$
  $DR=\frac{\mu_{p.sat}(\text{使像素值达到最大的光子数})}{\mu_{p.min}(\text{最低曝光量/绝对感光阈值对应光子数})}$  
Stablity Check 两项
$(\mu_y-\mu_{y.dark},\sigma_y)$
$(\mu_y-\mu_{y.dark},\mu[0]-\mu[1])$
两帧之前的平均的差值
     

模型契合度

Linearity Curve: Pasted image 20240708170242.png Deviation Linearity: Pasted image 20240708170310.png

测试项名称 测试数据 理论值 含义
Linearity Curve $(\mu_p,\mu_y-\mu_{y.dark})$ $\mu_y-\mu_{y.dark}=\eta K\mu_e$
线性关系
 
Deviation Linearity
Curve
$(\mu_p,LE(\text{Linearity Error}))$
Linearity Error是linearity curve上
data值和拟合值的距离
   
darkcurrent 两项
$(t,\mu_{y.dark})$
$(t,\sigma_{y.dark})$
暗电流$D$ 随温度指数变化,温度越低,噪声信号越小
exposure time和温度正相关
 

不同像素的一致性

测试项名称 测试数据 理论值 含义  
DSNU
(dark signal
nonuniformity)
$s_{y.dark}$ $DSNU_{1288}=\frac{s_{y.dark}}{K}$
定义
   
PRNU
(photoresponse
nonuniformity)
$s_{y.dark}, s_{y.50}$
$\mu_{y.dark}, \mu_{y.50}$
$PRNU_{1288}=\frac{\sqrt{s_{y.50}^2-s_{y.dark}^2}}{\mu_{y.50}-\mu_{y.dark}}$
定义
   
Enhanced mean image
0
DSNU frame
和PRNU frame
  下面几项都是frame的统计值
以检测分布是不是有什么规律
 
1
histogram
    整个frame统计  
2
Accumulated histogram
       
3
profile
    vertical, horizontal投影方向  
4
spectrogram
    pixel频率统计  

reference

[1] “EMVA1288Linear_4.0Release.Pdf.” Accessed August 25, 2023. https://www.emva.org/wp-content/uploads/EMVA1288Linear_4.0Release.pdf.